Tổng quan
Sự gia tăng trong thị trường xe điện nhấn mạnh nhu cầu cấp thiết cho pin nhỏ hơn, nhẹ hơn với công suất tăng. Tuy nhiên, an toàn vẫn là một mối quan tâm quan trọng trong các ứng dụng LI-ION PIN (LIB).
Lạm dụng nhiệt do khiếm khuyết sản xuất, biến dạng hoặc quản lý nhiệt không đầy đủ gây ra rủi ro đáng kể. Do hệ thống điện hóa/nhiệt phức tạp, thử nghiệm an toàn truyền thống không thể giải quyết toàn bộ sự lan truyền chạy trốn nhiệt trong quá trình rút ngắn nội bộ.
Người tham dự nào sẽ học
- Hiểu được sự khởi đầu chạy trốn nhiệt từ một sự kiện lạm dụng cơ học, như thâm nhập móng tay, thông qua phân tích FEA
- Tìm hiểu vai trò của dữ liệu kiểm tra ARC trong mô hình động học chạy nhiệt pin và nhận dạng tham số của nó
- Tìm hiểu cách giảm thiểu nhân giống chạy nhiệt cho gói EV thông qua mô phỏng
- Giảm thiểu sự lan truyền nhiệt trước khi trưởng thành do sự kiện thông hơi thông qua mô phỏng
Ai nên tham dự
Hệ thống pin và kỹ sư phát triển tế bào, Kỹ sư CAE nhiệt pin, Trưởng nhóm phát triển sòng bạc trực tuyến việt nam, Kỹ sư thiết kế pin và hệ thống, Kỹ sư dự án sòng bạc trực tuyến việt nam/HEV, Mô -đun quản lý nhiệt, Hệ thống quản lý năng lượng và nhiệt, Kỹ sư hệ thống - Quản lý nhiệt mô -đun, nhà điện hóa và các nhà khoa học pin
Người nói
Xiao Hu