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ngày 19 tháng 7 năm 2023
, 我们每天所使用的各种设备的可靠运行都依赖于集成电路 ic ic) ,的一个部分传输到另一个部分。由于需要提高速度以及设计的复杂性 的一个部分传输到另一个部分。由于需要提高速度以及设计的复杂性 这会迫使更多的电能流向体积更小的器件 , , ,
电迁移是由电流流动引起的原子运动。
, , ,之增加 , , ,
图片 : : , 在半导体互连器件中形成的空隙和小丘
电流增大、温度升高、机械应力增加、导体存在缺陷以及杂质的存在都会加速电迁移。这些影响电迁移的因素可通过 Đen 方程进行捕获MTTF) (arrhenius) : :
Đen 方程由 Robert Black 于 1969 , , , MTTF 与导线的电流密度、温度和材料属性的相关性。
电流密度 :由于较大的导线具有更大的横截面面积 , , ,
温度 :随着温度升高 , , ,
材料属性 :某些材料具有更强的抗电迁移能力。例如 ,
, , , , , ,
为了避免电子组件中金属迁移所带来的失败和危险 , : :
当然 ,芯片设计中的电迁移问题可能需要多种方法相结合。在为超大规模集成 (VLSI) ,流经互连器件的电流密度以及电阻增加的各种原因 ,
面对互连长度的增加以及宽度的减小、高电流密度和较差的散热能力 , , ,
, , , ,间的间距 , , ,
Bắt cờ bạc online mới nhất 2024 RedHawk-SC 数字等仿真软件让芯片设计人员能够预测和分析互连器件的行为 ,Đồng hồ Cách chơi, , ,
, 、选择合适的材料、控制温度和精心管理制造工艺 ,
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