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ngày 19 tháng 7 năm 2023

Các trò chơi trong Casino Phú Quốc减少芯片设计中的电迁移

, 我们每天所使用的各种设备的可靠运行都依赖于集成电路 ic ic) ,的一个部分传输到另一个部分。由于需要提高速度以及设计的复杂性 的一个部分传输到另一个部分。由于需要提高速度以及设计的复杂性 这会迫使更多的电能流向体积更小的器件 , , ,

什么是电迁移?

电迁移是由电流流动引起的原子运动。

, , ,之增加 , , ,

em

图片 : : , 在半导体互连器件中形成的空隙和小丘

电流增大、温度升高、机械应力增加、导体存在缺陷以及杂质的存在都会加速电迁移。这些影响电迁移的因素可通过 Đen 方程进行捕获MTTF) (arrhenius) : :

em
  • j : :
  • N : 比例因子
  • K :
  • t : 温度 (单位为开尔文)
  • Ea: : (单位为焦耳 单位为焦耳

Đen 方程由 Robert Black 于 1969 , , , MTTF 与导线的电流密度、温度和材料属性的相关性。

电流密度 :由于较大的导线具有更大的横截面面积 , , ,

温度 :随着温度升高 , , ,

材料属性 :某些材料具有更强的抗电迁移能力。例如 ,

, , , , , ,

如何减轻芯片设计中的电迁移影响

为了避免电子组件中金属迁移所带来的失败和危险 , : :

  1. 增加互连宽度 ,
  2. 使用具有高电迁移耐力的材料 ,
  3. 使用冗余通孔来分流电流强度。
  4. 减少互连器件之间的间距。
  5. 设计低电压水平的电路。

当然 ,芯片设计中的电迁移问题可能需要多种方法相结合。在为超大规模集成 (VLSI) ,流经互连器件的电流密度以及电阻增加的各种原因 ,

面对互连长度的增加以及宽度的减小、高电流密度和较差的散热能力 , , ,

芯片设计中的电迁移测试与监控

, , , ,间的间距 , , ,

Bắt cờ bạc online mới nhất 2024 RedHawk-SC 数字等仿真软件让芯片设计人员能够预测和分析互连器件的行为 ,Đồng hồ Cách chơi, , ,

成果 : :

, 、选择合适的材料、控制温度和精心管理制造工艺 ,

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